吴文捷 张振平 郭未艾 钱益勇 林浩添 晏丕松
目的：观察两年以上人工晶状体（IOL）植入患者的IOL远期囊袋内稳定性和后囊膜混浊的相关因素。方法：273例（301眼）行白内障超声乳化吸除联合IOL植入术患者，分为CCC完整覆盖IOL光学区组（A组，113眼）和CCC不完整覆盖IOL光学区组（B组，162眼），随访时间2年以上。运用Zeiss120 裂隙灯进行眼底后反光裂隙照相及PCO2000软件分析，观察IOL囊袋内稳定性并进行后囊膜混浊相关因素的分析。结果：A组IOL偏中心率低于B组，P<0.05。A组与B组中央后囊膜混浊评分总数值分别为0.102和0.322（t=3.763，P<0.05）。A组93％眼观察到晶状体上皮细胞从CCC不完整边缘向中央后囊膜移行增殖，65％眼观察到晶状体上皮细胞由IOL光学区与襻相连接处向中央增殖。B组中71％眼观察到中央后囊膜混浊的形成主要与晶状体上皮细胞从IOL光学区与襻连接处向中央后囊膜移行增生有关。年龄、后囊膜皱褶和晶状体皮质的残留均是两组中央后囊膜混浊形成的相关因素。结论：CCC完整覆盖IOL光学区，获得良好的IOL囊袋内稳定性和居中性，明显减少晶状体上皮细胞的移行和后囊膜混浊的产生。IOL光学区与襻连接处是阻挡晶状体上皮细胞增生移行的薄弱部位。关键词：后囊膜皱褶 后囊膜混浊 |
